介質(zhì)損耗測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)注意事項(xiàng)

        如果在使用過(guò)程中測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下幾個(gè)方面查找原因：
         1、掛鉤接觸不良
        在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量中使用掛鉤連接測(cè)試樣品時(shí)，掛鉤必須與測(cè)試樣品接觸良好，否則接觸點(diǎn)的放電會(huì)造成數(shù)據(jù)的嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是漏線(xiàn)氧化層過(guò)厚，或者風(fēng)吹走線(xiàn)，都容易造成接觸不良。
         2、接地接觸不良
        接地不良會(huì)造成儀器保護(hù)或嚴(yán)重的數(shù)據(jù)波動(dòng)。接地點(diǎn)的油漆和銹跡要刮掉，一定要保證0電阻接地！
         3、直接測(cè)量CVT或端部屏蔽法測(cè)量電磁PT
        直接測(cè)量CVT下耦合電容會(huì)產(chǎn)生負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。
        采用端部屏蔽法測(cè)量電磁PT時(shí)，由于濕氣引起的“T型網(wǎng)絡(luò)干擾"而產(chǎn)生負(fù)介電損耗，干燥下三裙瓷套和接線(xiàn)板即可。也可用常規(guī)法或端壓法測(cè)定。
         4.空氣濕度過(guò)大
        介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至變?yōu)樨?fù)值），并因空氣濕度而不穩(wěn)定。如有必要，可加裝屏蔽環(huán)。由于人為添加的屏蔽環(huán)改變了測(cè)試樣品的電場(chǎng)分布，這種方法存在爭(zhēng)議，可以參考相關(guān)規(guī)定。
         5.發(fā)電機(jī)電源
        發(fā)電機(jī)通電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可在固定頻率50Hz模式下工作。
         6.測(cè)試線(xiàn)
        由于使用，容易造成表筆隱性斷線(xiàn)，或芯線(xiàn)與屏蔽層短路，或插頭接觸不良，用戶(hù)應(yīng)經(jīng)常維護(hù)表筆；
        測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容器樣品時(shí)，使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容的影響，否則不能反映儀器的精度；
        用自激法測(cè)量CVT時(shí)，非專(zhuān)用高壓線(xiàn)應(yīng)懸空，否則對(duì)地附加的雜散電容和介電損耗會(huì)引起測(cè)量誤差。
         7.工作模式選擇
        接線(xiàn)后，請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（正向、反向和CVT），不要選錯(cuò)。特別是在干擾環(huán)境下，應(yīng)選擇變頻抗干擾模式。
         8、測(cè)試方法的影響
        由于介損測(cè)量受測(cè)試方法的影響很大，因此需要區(qū)分是測(cè)試方法的誤差還是儀器的誤差。出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，可以先檢查接線(xiàn)，再檢查儀表是否有故障。
         9、儀器故障
        使用萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試線(xiàn)是否開(kāi)路，或芯線(xiàn)與屏蔽是否短路；輸入電源220V過(guò)高或過(guò)低；接地是否良好。
        使用正向和反向接線(xiàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介電損耗的電容器測(cè)試樣品。如果結(jié)果正確，則可以判斷儀器沒(méi)有問(wèn)題；
        拔下所有測(cè)試線(xiàn)并進(jìn)行空測(cè)試以提高電壓。正常操作，儀器可能有故障。
        啟動(dòng)CVT測(cè)量后，測(cè)量低電壓輸出，應(yīng)有2~5V電壓，否則儀表故障。